Matriz de Tecnologia e Controle
Carlos Domenech e Patrícia Fonseca (Anglo American)
Em 50 palavras ou menos:
- Há dois eixos para expressar o desempenho de um processo: a) o eixo da tecnologia reflete a capacidade do processo de atender às especificações e b) o eixo do controle reflete a estabilidade.
- Sugerimos mostrar isso usando o método da M. I. Domenech ao invés do método S.
Este artigo está baseado no livro de Harry and Lawson (1992) Producibility Analysis and Process Characterization e na experiência dos consultores da M. I. Domenech.
Em discussões mantidas com Patrícia Fonseca, levantou-se a questão sobre a adequação da matriz de Tecnologia versus Controle utilizada em algumas empresas (Figura 1). Nesta matriz há 4 possibilidades básicas (Tabela 1).
Tabela 1 – Matriz Tecnologia e Controle usando enfoque pelo método S
Onde: Zst representa o nível Sigma de curto prazo (short term) e Zshift = representa o quanto a média do processo se afasta do centro da especificação ao longo do tempo e o valor 1,5 é um valor “padrão” para processos na área de semicondutores conforme determinado pela Motorola.
Figura 1 – Matriz Tecnologia x Controle – Método S
Pelos exemplos que mostraremos abaixo, o leitor atento poderá ver que a utilização do Zshift como indicador do controle é inadequada. Isso pode gerar ações de melhoria e estratégias de investimentos erradas.
Ao invés disso deve-se calcular um indicador baseado no quociente do desvio padrão de curto prazo (S_Dentro no Minitab) e o desvio padrão de longo prazo (S_Global no Minitab). Este quociente denomina-se Coeficiente de robustez (=S_Dentro/S_Global x 100) e dá uma medida da estabilidade do processo. Valores acima de 0,75 ou 0,80 mostram processos bem controlados. A matriz sugerida tem o formato indicado na Figura 2. A Figura 3 ilustra os possíveis processos dentro da matriz de Tecnologia e Controle. A única, e crucial diferença com a matriz da Figura 1 é a forma em que se define o controle.
Nesta matriz há 4 possibilidades básicas (Tabela 2):
Tabela 2 – Matriz Tecnologia e Controle usando enfoque pelo método da M. I. Domenech
Figura 2 – Matriz Tecnologia x Controle MID
Figura 3 – Ilustração de processos na Matriz Tecnologia x Controle MID
Exemplos de aplicação
Considere as cinco séries da Tabela 3 (LSL = lower specification limit, USL = upper specification limit).
Tabela 3 – Dados utilizados nas análises
A partir destes dados foram construídos os gráficos da Figura 4, com seus limites de especificação. Analise os gráficos e conclua sobre o nível de controle das séries. Escreva seu palpite sobre o controle na Tabela 4 usando os dois critérios acima.
Tabela 4 – Palpite conforme a tabela de Tecnologia e Controle?
Figura 4 – Exemplos de características controladas em um processo
Você fez a classificação das séries conforme a Tabela 5? Se você respondeu que sim, confirme seu palpite na Tabela 6. Você deve ter cometido vários erros na coluna Zshift e possivelmente acertou quase todos na coluna CR. É isso mesmo?
Tabela 5 – Seu palpite conforme os dois critérios de controle?
Tabela 6 – Valores reais de Zshift e CR
Conclusões:
- Lamentamos muito se você errou em quase todas!
- Comece a pensar diferente. Use somente métodos validados com pensamento profundo (sugestão do Deming).
Quebrando paradigmas:
Se você ainda não está convencido faça o seguinte. Repita os cálculos para a variável y6 = y6 = y1 -0,8; ou seja, y6 foi obtida a partir de y1, subtraindo uma constante. Você concordará conosco que o fato de somar ou subtrair uma constante a uma variável não pode mudar a estabilidade dela (ou seja, o nível de controle deveria ser o mesmo). O Zshift de y6 fica igual a 1,5 (ao invés de 1,69 como no caso da variável y1). Subtraindo uma constante você pode, magicamente, piorar (ou aumentar) o nível de controle da variável (procedimento mais barato do que ficar fazendo projetos LSS)! Veja que isso não acontece com a medida CR proposta neste artigo (CR de y6 fica igual a 0,83).
Referência bibliográfica:
Harry and Lawson (1992) Producibility Analysis and Process Characterization. Motorola University Press. ISBN: 1-56946-051-5.
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